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薄膜测厚仪

MAI显微镜适配器

产品概述

MAI显微镜适配器,可与任何一台正置显微联用,将MProble系列薄膜测厚仪加到显微镜上,用于微小样品的厚度测量,包含一个200万像素CCD,可对测量区域进行成像。